EMAIL: PASSWORD:
Front Office
UPT. PERPUSTAKAAN
Universitas Esa Unggul


Kampus Emas UEU - Jakarta Barat

Phone : 021-5674223, ext 282
Fax :
E-mail : [email protected]
Website : http://library.esaunggul.ac.id

Support (Customer Service) :
[email protected]








Welcome..guys!

Have a problem with your access?
Please, contact our technical support below:
LIVE SUPPORT


Astrid Chrisafi




! ATTENTION !

To facilitate the activation process, please fill out the member application form correctly and completely
Registration activation of our members will process up to max 24 hours (confirm by email). Please wait patiently

Still Confuse?
Please read our User Guide

Keyword
Mode
Expanded Search (for Free text search only)
 

UEU » Undergraduate Theses » Teknik Industri
Posted by [email protected] at 30/10/2024 15:31:58  •  98 Views


USULAN PERBAIKAN UNTUK MENURUNKAN CACAT KEMASAN PRODUK WAFELLO CHOCOBLAST 135 GRAM DENGAN METODE FAILURE MODE AND EFFECT ANALYSIS (FMEA) DAN CRITICAL TO QUALITY (CTQ) DI PT. XYZ

Created by :
EKA NURUL AULIA RAMADANTI ( 20190201152 )



SubjectUSULAN PERBAIKAN
MENURUNKAN CACAT
KEMASAN PRODUK
FAILURE MODE AND EFFECT ANALYSIS
CRITICAL TO QUALITY
Alt. Subject IMPROVEMENT PROPOSAL
REDUCING DEFECTS
PRODUCT PACKAGING
FAILURE MODE AND EFFECT ANALYSIS
CRITICAL TO QUALITY
KeywordCacat kemasan
Wafer
Critical To Quality (CTQ)
Failure Mode And Effects Analysis (FMEA)
Risk Priority Number.

Description:

PT. XYZ merupakan perusahaan yang bergerak di bidang industri makanan, yang menghasilkan berbagai produk makanan ringan salah satunya adalah Wafer Wafello Chocoblast 135 gram. Proses produksi Wafer meliputi proses pre-treatment (penimbangan bahan baku dan pencampuran formula ingredient pada saat proses mixing), proses grinding (pencampuran ingredient cream), proses baking (pemanggangan adonan), proses arch cooling (pendinginan), proses cream spreading (pengolesan cream), proses stacking (pembentukan Wafer), proses cutting (pemotong Wafer), dan proses packaging (pengemasan). Permasalahan yang dihadapi perusahaan adalah tingginya persentase produk cacat kemasan yang berada di luar batas yang telah ditetapkan oleh perusahaan yaitu sebesar 0,15 %. Penelitian ini bertujuan untuk menentukan jenis dan faktor-faktor penyebab cacat kemasan serta memberikan usulan perbaikan untuk mengurangi cacat kemasan. Hasil perhitungan menggunakan Diagram Pareto menunjukkan bahwa 3 faktor terbesar untuk produk cacat kemasan adalah cacat nginjek sebesar 27,41 %, cacat melipat sebesar 20,63 %, dan cacat jebol sebesar 17,37 %. Oleh karena itu berdasarkan hasil perhitungan tersebut maka penelitian ini berfokus pada penurunan cacat kemasan nginjek yang memiliki persentase cacat terbanyak. Dengan mengunakan Diagram Fishbone dapat diidentifikasi faktor-faktor penyebab terjadinya cacat nginjek. Selanjutnya, dengan menggunakan Critical To Quality (CTQ) diperoleh 3 faktor terbesar / dominan penyebab cacat nginjek. Kemudian berdasarkan metode Failure Mode And Effect Analysis (FMEA) diperoleh faktor penyebab yang paling potensial yaitu susunan Wafer miring dengan nilai RPN (Risk Priority Number) sebesar 448 sehingga menjadi prioritas utama untuk dilakukan perbaikan. Penyebab susunan Wafer miring adalah ukuran guide jalur finger yang tidak sesuai, sehingga diberikan usulan berupa gauge (penanda) ukuran guide jalur finger

Contributor:
  1. Ir. ROESFIANSJAH RASJIDIN, MT, Ph.D.
Date Create:30/10/2024
Type:Text
Format:PDF
Language:Indonesian
Identifier:UEU-Undergraduate-20190201152
Collection ID:20190201152


Source :
Undergraduate Theses of Industrial Engineering

Relation Collection:
Fakultas Teknik

Coverage :
Civitas Akademika Universitas Esa Unggul

Rights :
@2024 Perpustakaan Universitas Esa Unggul


Publication URL :
https://digilib.esaunggul.ac.id/usulan-perbaikan-untuk-menurunkan-cacat-kemasan-produk-wafello-chocoblast-135-gram-dengan-metode-failure-mode-and-effect-analysis-fmea-dan-critical-to-quality-ctq-di-pt-xyz-36463.html




[ Free Download - Free for All ]

  1.  UEU-Undergraduate-36463-COVER.Image.Marked.pdf - 202 KB
  2.  UEU-Undergraduate-36463-HALAMAN PENGESAHAN.Image.Marked.pdf - 353 KB
  3.  UEU-Undergraduate-36463-HALAMAN PERSETUJUAN.Image.Marked.pdf - 386 KB
  4.  UEU-Undergraduate-36463-HALAMAN PUBLIKASI.Image.Marked.pdf - 448 KB
  5.  UEU-Undergraduate-36463-HALAMAN KEASLIAN.Image.Marked.pdf - 298 KB
  6.  UEU-Undergraduate-36463-ABSTRAK.Image.Marked.pdf - 218 KB
  7.  UEU-Undergraduate-36463-KATA PENGANTAR.Image.Marked.pdf - 218 KB
  8.  UEU-Undergraduate-36463-DAFTAR ISI.Image.Marked.pdf - 429 KB
  9.  UEU-Undergraduate-36463-DAFTAR PUSTAKA.Image.Marked.pdf - 196 KB
  10.  UEU-Undergraduate-36463-LAMPIRAN.Image.Marked.pdf - 1184 KB
  11.  UEU-Undergraduate-36463-BAB1.Image.Marked.pdf - 378 KB

[ FullText Content - Please, register first ]

  1. UEU-Undergraduate-36463-BAB2.Image.Marked.pdf - 910 KB
  2. UEU-Undergraduate-36463-BAB3.Image.Marked.pdf - 287 KB
  3. UEU-Undergraduate-36463-BAB4.Image.Marked.pdf - 2358 KB
  4. UEU-Undergraduate-36463-BAB5.Image.Marked.pdf - 461 KB
  5. UEU-Undergraduate-36463-BAB6.Image.Marked.pdf - 213 KB

 10 Similar Document...

     No similar subject found !

 10 Related Document...






HELP US !
You can help us to define the exact keyword for this document by clicking the link below :

(CTQ) , (FMEA) , Analysis , And , Cacat , Cacat kemasan , Critical , Critical To Quality (CTQ) , Effects , Failure , Failure Mode And Effects Analysis (FMEA) , Mode , Number. , Priority , Quality , Risk , Risk Priority Number. , To , Wafer , kemasan



POLLING

Bagaimana pendapat Anda tentang repository kami ?

Bagus Sekali
Baik
Biasa
Jelek
Mengecewakan




154573433


Visitors Today : 3
Total Visitor : 1970007

Hits Today : 62625
Total Hits : 154573433

Visitors Online: 1


Calculated since
16 May 2012

You are connected from 172.17.121.29
using Mozilla/5.0 AppleWebKit/537.36 (KHTML, like Gecko; compatible; ClaudeBot/1.0; [email protected])


UEU Digital Repository Feeds


Copyright © UEU Library 2012 - 2024 - All rights reserved.
Dublin Core Metadata Initiative and OpenArchives Compatible
Developed by Hassan